薄膜・表面界面物性

所属 氏名 研究分野 研究テーマ
理工学部
電気工学科
教授
村上 英一 MURAKAMI
EIICHI
電子デバイス・電子機器、 薄膜・表面界面物性、 電子・電気材料工学、 電力工学・電力変換・電気機器 SiC-MOSFETの信頼性とパワー回路応用に関する研究